日前,日本產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所與東京大學(xué)聯(lián)合研制出了采用強電介質(zhì)柵極電場效應(yīng)晶體管(Ferroelectric gate field-effect transistor:FeFET)的NAND閃存存儲單元??刹翆?億次以上,寫入電壓為6V以下。
而此前的NAND閃存存儲單元只能擦寫1萬次,且寫入電壓為20V,以往的NAND閃存只能微細(xì)化到30nm左右,而此次的存儲單元技術(shù)還可以支持將來的20nm和10nm工藝技術(shù)。